Die klassische FTIR-Mikroskopie und die daraus abgeleiteten Techniken der bildgebenden Analyse (FTIR-imaging) arbeiten im Fernfeld. Deshalb ist ihre räumliche Auflösung beugungslimitiert. Strukturen unterhalb der Wellenlänge des eingesetzten Lichts können sie also nicht auflösen, im mittleren Infrarot beschränkt sich die erzielbare räumliche Auflösung auf wenige Mikrometer. Eine Möglichkeit dieses Beugungslimit zu umgehen, sind Nahfeldtechniken. Im sichtbaren Wellenlängenbereich funktioniert dies schon länger, etwa mit faserbasierter, nahfeldoptischer Rastermikroskopietechnik (SNOM). Eine analoge Geräteentwicklung im mittleren Infrarot ist je...