Die Einzelpartikel-ICP-ToF-MS wird zu einem wichtigen Werkzeug, um Multielement-Nanopartikel zu analysieren. Um deren großen Datensätze statistisch auszuwerten, sind jedoch Auswertewerkzeuge nötig. Gundlach-Graham und Mitarbeiter:innen haben auf Basis von Labview das Datenauswertewerkzeug TOF-SPI entwickelt. Mit TOF-SPI lassen sich Einzelpartikelevents zuordnen, Partikel quantifizieren und ICP-ToF-MS-Rohdaten auswerten. Außerdem enthält es Korrekturfunktionen. BM J. Anal. At. Spectrom. 2024, doi: 10.1039/d3ja00421j